<html>
<body>
<blockquote type=cite class=cite cite=""><font size=6>IOMW 2008<br>
</font>&nbsp;<br>
Just a reminder that the deadline for submitting individual papers and
symposia to the IOMW 2008 meeting is just around the corner.&nbsp;
January 18 is only two weeks away.&nbsp; We are hoping that everyone does
not wait until the last minute to submit a paper or symposium.&nbsp; If
there are any questions about the submission process, please contact me
at the e-mail address below or you can contact us at
<a href="mailto:IOMW2008@att.net">IOMW2008@att.net</a>.<br>
&nbsp;<br>
&nbsp;IOMW 2008 will be held just prior to AERA on March 22 and 23, 2008
at NYU in New York City.&nbsp; Information on IOMW can be found on the
JAM Press web site
(<a href="http://www.jampress.org/">www.jampress.org</a>) or at the Data
Recognition Corporation web site
(<a href="http://www.datarecognitioncorp.com/">
www.datarecognitioncorp.com</a>).&nbsp; IOMW 2008 is cosponsored by Data
Recognition Corporation, the Steinhardt School at NYU, and JAM
Press.<br>
&nbsp;<br>
Hope to see you all there!&nbsp; And please send in a paper or symposium
proposal.<br>
&nbsp;<br>
--<br>
Richard M. Smith, Editor <br>
Journal of Applied Measurement <br><br>
P.O. Box 1283 <br>
Maple Grove, MN 55311 USA <br>
(JAM web site) <br>
<a href="http://www.jampress.org/" eudora="autourl">
http://www.jampress.org</a> <br>
voice: 763-268-2282 (w) <br>
fax: 763-268-2782 <br><br>
_______________________________________________</blockquote></body>
</html>