<html>
<!-- BEGIN WEBMAIL STATIONERY -->
<head></head>
<body>
<!-- WEBMAIL STATIONERY noneset -->
<DIV></DIV>
<DIV>
<DIV>
<DIV>For those of you thinking about&nbsp;attending IOMW 2008 at NYU in New York City on March 22 and 23, 2008, the registration process is&nbsp;open and there are only 10 days&nbsp;left in the early registration period.&nbsp; IOMW meets just prior to the AERA annual meeting, so it is a good opportunity to take part in both meetings.</DIV>
<DIV>&nbsp;</DIV>
<DIV>IOMW 2008&nbsp;will offer over 50 presentations in 14 sessions during the two day meeting.&nbsp; There are several computer software sessions available, as well as the usual paper and symposium sessions.&nbsp; The preliminary program is available and it looks like a interesting IOMW.&nbsp; Registration is $40 USD (early) and $50 USD (late).&nbsp; To receive the reduced early registration fee your payment information must be received by March 14, 2008.&nbsp; </DIV>
<DIV>&nbsp;</DIV>
<DIV><STRONG>Please Note:</STRONG></DIV>
<DIV>&nbsp;</DIV>
<DIV>With the high security in New York City, it will be necessary to present a photo ID to enter the NYU classroom buildings.&nbsp; Each participant's name will also have to appear on the attendee list provided to security.&nbsp; If you are planning to use on-site registration, it will be necessary to e-mail the organizing committee&nbsp; by March 17 to have your name added to the attendee list.&nbsp; E-mail addresses for this purpose are listed below.&nbsp; IOMW will meet in rooms 713 and 714 of the Silver Center, 100 Washington Square East, New York, NY&nbsp; 10003.</DIV>
<DIV>&nbsp;</DIV>
<DIV>The registration from is available on the Journal of Applied Measurement web site (<A href="http://www.jampress.org/" target=_blank>http://www.jampress.org</A>).&nbsp; Click on IOMW 2008&nbsp; on the right side and scroll down to the registration form.&nbsp; The form is available as a printable pdf that can be&nbsp;mailed, or e-mailed when completed.&nbsp; The same information is also available on the Data Recognition Corporation web site (<A href="http://www.datarecognitioncorp.com/" target=_blank>http://www.datarecognitioncorp.com</A>).&nbsp; </DIV>
<DIV>&nbsp;</DIV>
<DIV>If you have any questions about IOMW 2008 please contact the organizing committee at <A href="mailto:iomw@datarecognitioncorp.com" target=_blank>iomw@datarecognitioncorp.com</A> or <A href="mailto:IOMW2008@att.net" target=_blank>IOMW2008@att.net</A>.</DIV>
<DIV>&nbsp;</DIV>
<DIV>Looking forward to seeing you all at IOMW 2008!</DIV>
<DIV>&nbsp;</DIV></DIV></DIV>
<DIV class=signature id=signature>--<BR>Richard M. Smith, Editor <BR>Journal of Applied Measurement <BR><BR>P.O. Box 1283 <BR>Maple Grove, MN 55311 USA <BR>(JAM web site) <BR>http://www.jampress.org <BR>voice: 763-268-2282 (w) <BR>fax: 763-268-2782 <BR><BR></DIV>
<!-- END WEBMAIL STATIONERY -->

</body>
</html>