<p>The latest issue of the Journal of Applied Measurement (Vol. 21, No. 2, 2020) is now available.  The contents of this issue are listed below.  If you have not seen the journal, sample copies are available on request.  Sample copies may be requested by e-mail.  Please address those requests to the editor.  If you think that your students would find the work published in JAM useful, we can also arrange for sample copies for your measurement classes.  Contact information for sample copies is listed below.   Please visit our web page at <a href="http://www.jampress.org/" target='_blank'>www.jampress.org</a> for a complete list of articles published in JAM and the abstracts for the articles listed below.</p>
<p> </p>
<p>Please do not reply to this message, as it will be distributed to the entire list-serve.</p>
<p> </p>
<p><strong>Vol. 21, No. 2, Summer 2020</strong></p>
<p>The Boston College Living a Life of Meaning and Purpose (BC-LAMP) Portfolio: An Application of Rasch/Guttman Scenario Methodology<br><em>     Larry Ludlow, Ella Anghel, Olivia Szendey, Theresa O’Keefe, Burton Howell, Christina Matz-Costa, and Henry Braun</em></p>
<p>A Multidimensional Rasch Analysis of the Preschool Instructional Leadership Survey<br><em>     Karen Fong and Heather Horsley</em></p>
<p>Attitudes Towards Gender Roles in Family:  A Rasch-based Validation Study<br><em>     Clelia Cascella and Maria Pampaka</em></p>
<p>You Know What They Say About When You Assume:  Assessing the Robustness of Invariant Comparisons<br><em>     Austin T. Boyd, Karen M. Schmidt, and C. S. Bergeman</em></p>
<p>Measuring Teacher Education Students’ Mathematical Beliefs<br><em>     Thomas Utvaer and Trygve Solstad</em></p>
<p>Student’s Performance Shown on Google Maps Using Online Rasch Analysis<br>     <em>Hing-Man Wu, Yang Shao, and Tsair-Wei Chien</em></p>
<p>Further Examination of the Structure of the Statistical Anxiety Rating Scale (STARS) in International Use<br><em>     Yosi Yaffe, Oshrat Bouhnik, David Burg, and Orr Leventa</em></p>
<br> <br> Richard M. Smith, Editor<br>Journal of Applied Measurement<br>P. O. Box 1283<br>Maple Grove, MN  55311<br><a href="http://webmail.jampress.org" target='_blank'>WWW.JAMPress.org<br></a>763-416-0664 (Home)